AVENDAÑO A., Carlos Alberto; IBAÑEZ OLAYA, Henry Felipe; ORTÍZ SÁNCHEZ, Helmuth Edgardo. Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC. Tecnura, [S. l.], v. 6, n. 12, p. 42–51, 2003. DOI: 10.14483/22487638.6139. Disponível em: https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/Tecnura/article/view/6139. Acesso em: 25 abr. 2024.