Fajardo Jaimes, Arturo. 2017. Comparación De Las Técnicas De Extracción Del Voltaje De Umbral Basadas En La Característica Gm/ID Del MOSFET. Tecnura 21 (52), 32-44. https://doi.org/10.14483/udistrital.jour.tecnura.2017.2.a02.