Procesamiento de imágenes infrarrojas para la detección de defectos en materiales

Autores/as

  • Hernan Dario Benitez Restrepo Universidad del Valle
  • Clemente Ibarra Castanedo Universidad del Valle
  • Abdel Hakim Bendada Universidad del Valle
  • Xavier Maldague Universidad del Valle
  • Humberto Loaiza Universidad del Valle
  • Eduardo Caicedo Universidad del Valle

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Resumen (es)

El Ensayo Termográfico No Destructivo (ETND) es una técnica de evaluación de materiales, en la que la superficie de una muestra de material es estimulada técnicamente para producir una diferencia de temperatura entre las áreas no defectuosas y las eventualmente defectuosas. Los cambios de temperatura son registrados mediante una cámara infrarroja; posteriormente, dada la distorsión generada por el ruido, se ejecutan etapas de procesamiento para detectar y/o caracterizar los defectos en el material. En este artículo se analizan y comparan experimentalmente varios de estos métodos de procesamiento y se profundiza en la técnica CAD (Contraste Absoluto Diferencial) modificada por cuadrupolos térmicos.

Biografía del autor/a

Hernan Dario Benitez Restrepo, Universidad del Valle

Ingeniero Electrónico. Estudiante de doctorado en Ingeniería. Valle.

Clemente Ibarra Castanedo, Universidad del Valle

Ph.D de la Universidad de Laval. Investigador posdoctoral de la Universidad de Laval. Canadá.

Abdel Hakim Bendada, Universidad del Valle

Doctor en Ciencias. Profesor de la Universidad Laval. Canadá.

Xavier Maldague, Universidad del Valle

Ph.D de la Universidad de Laval. Profesor del departamento génie électrique et de génie infomlatique Université Laval (Canadá). Canadá.

Humberto Loaiza, Universidad del Valle

Doctor en Robótica. Profesor de la Escuela de Ingeniería Eléctrica y Electrónica de la Universidad del Valle. Valle.

Eduardo Caicedo, Universidad del Valle

Doctor en Informática Industrial. Profesor de la Escuela de Ingeniería Eléctrica y Electrónica de la Universidad del Valle. Valle.

Cómo citar

APA

Benitez Restrepo, H. D., Ibarra Castanedo, C., Hakim Bendada, A., Maldague, X., Loaiza, H., y Caicedo, E. (2007). Procesamiento de imágenes infrarrojas para la detección de defectos en materiales. Tecnura, 10(20), 40–51. https://doi.org/10.14483/22487638.6227

ACM

[1]
Benitez Restrepo, H.D. et al. 2007. Procesamiento de imágenes infrarrojas para la detección de defectos en materiales. Tecnura. 10, 20 (ene. 2007), 40–51. DOI:https://doi.org/10.14483/22487638.6227.

ACS

(1)
Benitez Restrepo, H. D.; Ibarra Castanedo, C.; Hakim Bendada, A.; Maldague, X.; Loaiza, H.; Caicedo, E. Procesamiento de imágenes infrarrojas para la detección de defectos en materiales. Tecnura 2007, 10, 40-51.

ABNT

BENITEZ RESTREPO, Hernan Dario; IBARRA CASTANEDO, Clemente; HAKIM BENDADA, Abdel; MALDAGUE, Xavier; LOAIZA, Humberto; CAICEDO, Eduardo. Procesamiento de imágenes infrarrojas para la detección de defectos en materiales. Tecnura, [S. l.], v. 10, n. 20, p. 40–51, 2007. DOI: 10.14483/22487638.6227. Disponível em: https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/Tecnura/article/view/6227. Acesso em: 14 abr. 2024.

Chicago

Benitez Restrepo, Hernan Dario, Clemente Ibarra Castanedo, Abdel Hakim Bendada, Xavier Maldague, Humberto Loaiza, y Eduardo Caicedo. 2007. «Procesamiento de imágenes infrarrojas para la detección de defectos en materiales». Tecnura 10 (20):40-51. https://doi.org/10.14483/22487638.6227.

Harvard

Benitez Restrepo, H. D. (2007) «Procesamiento de imágenes infrarrojas para la detección de defectos en materiales», Tecnura, 10(20), pp. 40–51. doi: 10.14483/22487638.6227.

IEEE

[1]
H. D. Benitez Restrepo, C. Ibarra Castanedo, A. Hakim Bendada, X. Maldague, H. Loaiza, y E. Caicedo, «Procesamiento de imágenes infrarrojas para la detección de defectos en materiales», Tecnura, vol. 10, n.º 20, pp. 40–51, ene. 2007.

MLA

Benitez Restrepo, Hernan Dario, et al. «Procesamiento de imágenes infrarrojas para la detección de defectos en materiales». Tecnura, vol. 10, n.º 20, enero de 2007, pp. 40-51, doi:10.14483/22487638.6227.

Turabian

Benitez Restrepo, Hernan Dario, Clemente Ibarra Castanedo, Abdel Hakim Bendada, Xavier Maldague, Humberto Loaiza, y Eduardo Caicedo. «Procesamiento de imágenes infrarrojas para la detección de defectos en materiales». Tecnura 10, no. 20 (enero 1, 2007): 40–51. Accedido abril 14, 2024. https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/Tecnura/article/view/6227.

Vancouver

1.
Benitez Restrepo HD, Ibarra Castanedo C, Hakim Bendada A, Maldague X, Loaiza H, Caicedo E. Procesamiento de imágenes infrarrojas para la detección de defectos en materiales. Tecnura [Internet]. 1 de enero de 2007 [citado 14 de abril de 2024];10(20):40-51. Disponible en: https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/Tecnura/article/view/6227

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