Tasa de muestreo adc en microcontroladores avanzados de 8 bits

Adc sampling rate for advanced 8 bit microcontrollers

  • Francisco Javier Zamora Navarro Universidad Distrital Francisco Jose de Caldas, facultad Tecnologica
  • Adriana Valiente Cristancho
Palabras clave: ADC, quantification, scaling, sample and hold, SAR, sampling rate (en_US)
Palabras clave: ADC, cuantificación, escalización, muestreo y retención, SAR, tasa de muestreo (es_ES)

Resumen (es_ES)

Este estudio teórico revisa los roles que tienen los valores de los
principales parámetros en el modelo de los conversores analógico a digital (ADC), presentes en las unidades microcontroladoras (MCU) de gama media y avanzada del fabricante Microchip, en el número máximo de muestras por segundo (tasa de muestreo) que se puede adquirir de una señal analógica de referencia. Se determinan los compromisos entre las características de la señal de entrada, la resolución de los datos requerida por la aplicación y las características del dispositivo, a fin de maximizar la tasa de muestreo y evaluar comparativamente el desempeño de tres gamas representativas de MCU PIC® de Microchip a partir de sus especificaciones.

Resumen (en_US)

This study reviews in theory the roles played by the values of the main analog to digital (ADC) converter parameters in the maximum number of samples per second (sampling rate) for an analog reference signal. These parameters are present in the middle and advanced families of Microchip´s microcontroller units (MCU). The tradeoffs between the characteristics of the input signal, the resolution of the data required by the application and the device characteristics, are determined with the purpose of maximizing the sampling rate and benchmarking the performance of three ranges of Microchip´s PIC MCU according to their specifications

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Biografía del autor/a

Francisco Javier Zamora Navarro, Universidad Distrital Francisco Jose de Caldas, facultad Tecnologica
Asistente Editorial

Referencias

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Cómo citar
Zamora Navarro, F. J., & Valiente Cristancho, A. (2015). Tasa de muestreo adc en microcontroladores avanzados de 8 bits. Visión electrónica, 9(1), 128-138. https://doi.org/10.14483/22484728.11022
Publicado: 2015-06-08
Sección
Visión Actual