DOI:

https://doi.org/10.14483/22484728.2839

Publicado:

2009-09-02

Número:

Vol. 3 Núm. 2 (2009)

Sección:

Visión de Caso

Mobile devices for testing of application-specific integrated circuits (ASIC)

Dispositivos móviles para el análisis de circuitos integrados de aplicación específica (CIAE)

Autores/as

  • Michael E. Auer Carinthia University of Applied Sciences
  • Danilo G. Zutin Universidad Distrital Francisco José de

Palabras clave:

Dispositivos móviles, laboratorios Online, dispositivos de control remoto, e-Learning, CIAE remotos (es).

Palabras clave:

Mobile devices, Online Laboratories, Remote Control of Devices, E-Learning, analog ASICs (en).

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Resumen (en)

The aim of this work is to develop a simultaneous multi user access system—READ (Remote ASCI Design and Test)— that allows users to performtest and measurements remotely via clients running on mobile devices as well as on PCs. The system also facilitates the remote design of circuits with the PAC-Designer®. The system is controlled by LabVIEW® and was implemented using a Data Acquisition Card from National Instruments. Such systems are specially suited for manufacturing process monitoring and control. The performance of the simultaneous access was tested underload with a variable number of users. The server implements a queue that processes user’s commands upon request.

Resumen (es)

El objetivo de este trabajo es desarrollar un sistema multiusuario de acceso simultáneo, CRED (CIAE Remotos, diseño y pruebas) que permite a los usuarios realizar pruebas y mediciones a distancia, a través de clientes que utilizan dispositivos móviles, así como en PC. El sistema también facilita el diseño de los circuitos de control remoto con el Diseñador-PAC®. El sistema está controlado por LabVIEW® y se llevó a cabo utilizando una tarjeta de adquisición de datos de National Instruments. Estos sistemas son especialmente adecuados para el seguimiento de procesos de producción y control. El rendimiento del acceso simultáneo se puso a prueba con carga, con un número variable de usuarios. El servidor implementa una cola de procesos de comandos a petición del usuario.

Biografía del autor/a

Michael E. Auer, Carinthia University of Applied Sciences



Cómo citar

APA

Auer, M. E., & Zutin, D. G. (2009). Mobile devices for testing of application-specific integrated circuits (ASIC). Visión electrónica, 3(2), 90–96. https://doi.org/10.14483/22484728.2839

ACM

[1]
Auer, M.E. y Zutin, D.G. 2009. Mobile devices for testing of application-specific integrated circuits (ASIC). Visión electrónica. 3, 2 (sep. 2009), 90–96. DOI:https://doi.org/10.14483/22484728.2839.

ACS

(1)
Auer, M. E.; Zutin, D. G. Mobile devices for testing of application-specific integrated circuits (ASIC). Vis. Electron. 2009, 3, 90-96.

ABNT

AUER, M. E.; ZUTIN, D. G. Mobile devices for testing of application-specific integrated circuits (ASIC). Visión electrónica, [S. l.], v. 3, n. 2, p. 90–96, 2009. DOI: 10.14483/22484728.2839. Disponível em: https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/visele/article/view/2839. Acesso em: 28 oct. 2021.

Chicago

Auer, Michael E., y Danilo G. Zutin. 2009. «Mobile devices for testing of application-specific integrated circuits (ASIC)». Visión electrónica 3 (2):90-96. https://doi.org/10.14483/22484728.2839.

Harvard

Auer, M. E. y Zutin, D. G. (2009) «Mobile devices for testing of application-specific integrated circuits (ASIC)», Visión electrónica, 3(2), pp. 90–96. doi: 10.14483/22484728.2839.

IEEE

[1]
M. E. Auer y D. G. Zutin, «Mobile devices for testing of application-specific integrated circuits (ASIC)», Vis. Electron., vol. 3, n.º 2, pp. 90–96, sep. 2009.

MLA

Auer, M. E., y D. G. Zutin. «Mobile devices for testing of application-specific integrated circuits (ASIC)». Visión electrónica, vol. 3, n.º 2, septiembre de 2009, pp. 90-96, doi:10.14483/22484728.2839.

Turabian

Auer, Michael E., y Danilo G. Zutin. «Mobile devices for testing of application-specific integrated circuits (ASIC)». Visión electrónica 3, no. 2 (septiembre 2, 2009): 90–96. Accedido octubre 28, 2021. https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/visele/article/view/2839.

Vancouver

1.
Auer ME, Zutin DG. Mobile devices for testing of application-specific integrated circuits (ASIC). Vis. Electron. [Internet]. 2 de septiembre de 2009 [citado 28 de octubre de 2021];3(2):90-6. Disponible en: https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/visele/article/view/2839

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