Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC

Autores/as

  • Carlos Alberto Avendaño A. Universidad Distrital "Francisco José de Caldas"
  • Henry Felipe Ibañez Olaya Universidad Distrital "Francisco José de Caldas"
  • Helmuth Edgardo Ortíz Sánchez Universidad Distrital "Francisco José de Caldas"

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Resumen (es)

Desde su creación en el año 2002, el Grupo de Investigación en Protecciones Eléctricas (Gipud)ha estudiado las diferentes causas por las cuales se presentan sobretensiones en sistemas eléctricos, sus consecuencias, técnicas para evaluar el riesgo de estas sobretensiones, así como metodologías y equipos para mitigarlas. Las actividades han comprendido investigaciones, trabajos de grado y participación en Comités Técnicos de Normalización promovidos por el Instituto Colombiano de Normas Técnicas (Icontec).

Biografía del autor/a

Carlos Alberto Avendaño A., Universidad Distrital "Francisco José de Caldas"

Ingeniero Electricista, Especialización en Ingeniería electrica con énfasis en Alta tensión, Maestría en Alta Tensión. Profesor de la Facultad Tecnológica de la Universidad Distrital "Francisco José de Caldas". Bogotá. carlitoave@hotmail.com

Henry Felipe Ibañez Olaya, Universidad Distrital "Francisco José de Caldas"

Ingeniero Electricista, Especialista en Control. Profesor adscrito a la Facultad Tecnológica de la Universidad Distrital "Francisco José de Caldas". Bogotá. hibanez@multi.net.co

Helmuth Edgardo Ortíz Sánchez, Universidad Distrital "Francisco José de Caldas"

Ingeniero Electricista. Profesor adscrito a la Facultad Tecnológica de la Universidad Distrital "Francisco José de Caldas". Bogotá. helmuthos@ieee.org

Cómo citar

APA

Avendaño A., C. A., Ibañez Olaya, H. F., & Ortíz Sánchez, H. E. (2003). Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC. Tecnura, 6(12), 42–51. https://doi.org/10.14483/22487638.6139

ACM

[1]
Avendaño A., C.A., Ibañez Olaya, H.F. y Ortíz Sánchez, H.E. 2003. Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC. Tecnura. 6, 12 (ene. 2003), 42–51. DOI:https://doi.org/10.14483/22487638.6139.

ACS

(1)
Avendaño A., C. A.; Ibañez Olaya, H. F.; Ortíz Sánchez, H. E. Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC. Tecnura 2003, 6, 42-51.

ABNT

AVENDAÑO A., C. A.; IBAÑEZ OLAYA, H. F.; ORTÍZ SÁNCHEZ, H. E. Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC. Tecnura, [S. l.], v. 6, n. 12, p. 42–51, 2003. DOI: 10.14483/22487638.6139. Disponível em: https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/Tecnura/article/view/6139. Acesso em: 15 abr. 2021.

Chicago

Avendaño A., Carlos Alberto, Henry Felipe Ibañez Olaya, y Helmuth Edgardo Ortíz Sánchez. 2003. «Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC». Tecnura 6 (12):42-51. https://doi.org/10.14483/22487638.6139.

Harvard

Avendaño A., C. A., Ibañez Olaya, H. F. y Ortíz Sánchez, H. E. (2003) «Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC», Tecnura, 6(12), pp. 42–51. doi: 10.14483/22487638.6139.

IEEE

[1]
C. A. Avendaño A., H. F. Ibañez Olaya, y H. E. Ortíz Sánchez, «Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC», Tecnura, vol. 6, n.º 12, pp. 42–51, ene. 2003.

MLA

Avendaño A., C. A., H. F. Ibañez Olaya, y H. E. Ortíz Sánchez. «Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC». Tecnura, vol. 6, n.º 12, enero de 2003, pp. 42-51, doi:10.14483/22487638.6139.

Turabian

Avendaño A., Carlos Alberto, Henry Felipe Ibañez Olaya, y Helmuth Edgardo Ortíz Sánchez. «Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC». Tecnura 6, no. 12 (enero 1, 2003): 42–51. Accedido abril 15, 2021. https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/Tecnura/article/view/6139.

Vancouver

1.
Avendaño A. CA, Ibañez Olaya HF, Ortíz Sánchez HE. Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC. Tecnura [Internet]. 1 de enero de 2003 [citado 15 de abril de 2021];6(12):42-51. Disponible en: https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/Tecnura/article/view/6139

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