DOI:
https://doi.org/10.14483/22487638.6139Publicado:
2003-01-01Número:
Vol. 6 Núm. 12 (2003): Enero-Junio 2003Sección:
ImágenesEvaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC
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Resumen (es)
Desde su creación en el año 2002, el Grupo de Investigación en Protecciones Eléctricas (Gipud)ha estudiado las diferentes causas por las cuales se presentan sobretensiones en sistemas eléctricos, sus consecuencias, técnicas para evaluar el riesgo de estas sobretensiones, así como metodologías y equipos para mitigarlas. Las actividades han comprendido investigaciones, trabajos de grado y participación en Comités Técnicos de Normalización promovidos por el Instituto Colombiano de Normas Técnicas (Icontec).Cómo citar
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Avendaño A., C. A., Ibañez Olaya, H. F., y Ortíz Sánchez, H. E. (2003). Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC. Tecnura, 6(12), 42–51. https://doi.org/10.14483/22487638.6139
ACM
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Avendaño A., C.A. et al. 2003. Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC. Tecnura. 6, 12 (ene. 2003), 42–51. DOI:https://doi.org/10.14483/22487638.6139.
ACS
(1)
Avendaño A., C. A.; Ibañez Olaya, H. F.; Ortíz Sánchez, H. E. Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC. Tecnura 2003, 6, 42-51.
ABNT
AVENDAÑO A., Carlos Alberto; IBAÑEZ OLAYA, Henry Felipe; ORTÍZ SÁNCHEZ, Helmuth Edgardo. Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC. Tecnura, [S. l.], v. 6, n. 12, p. 42–51, 2003. DOI: 10.14483/22487638.6139. Disponível em: https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/Tecnura/article/view/6139. Acesso em: 4 nov. 2024.
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Avendaño A., Carlos Alberto, Henry Felipe Ibañez Olaya, y Helmuth Edgardo Ortíz Sánchez. 2003. «Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC». Tecnura 6 (12):42-51. https://doi.org/10.14483/22487638.6139.
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Avendaño A., C. A., Ibañez Olaya, H. F. y Ortíz Sánchez, H. E. (2003) «Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC», Tecnura, 6(12), pp. 42–51. doi: 10.14483/22487638.6139.
IEEE
[1]
C. A. Avendaño A., H. F. Ibañez Olaya, y H. E. Ortíz Sánchez, «Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC», Tecnura, vol. 6, n.º 12, pp. 42–51, ene. 2003.
MLA
Avendaño A., Carlos Alberto, et al. «Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC». Tecnura, vol. 6, n.º 12, enero de 2003, pp. 42-51, doi:10.14483/22487638.6139.
Turabian
Avendaño A., Carlos Alberto, Henry Felipe Ibañez Olaya, y Helmuth Edgardo Ortíz Sánchez. «Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC». Tecnura 6, no. 12 (enero 1, 2003): 42–51. Accedido noviembre 4, 2024. https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/Tecnura/article/view/6139.
Vancouver
1.
Avendaño A. CA, Ibañez Olaya HF, Ortíz Sánchez HE. Evaluación del riesgo de daño en sisitemas eléctricos de baja tensión a causa de los rayos, bajo la metodología IEC. Tecnura [Internet]. 1 de enero de 2003 [citado 4 de noviembre de 2024];6(12):42-51. Disponible en: https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/Tecnura/article/view/6139
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